CXT2668系列四探針測試儀CXT2667

CXT2668系列四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途寬量程綜合測量設(shè)備, 同時(shí)也是電阻率測試儀、電導(dǎo)率測試儀.該儀器是按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，可用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻及其它各種材料)的專用儀器。儀器運(yùn)用雙電測原理，進(jìn)行多次測量，自動消減樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測相比，大大提高測量精度和一致性。

儀器選配 U盤數(shù)據(jù)記錄接口，可方便的進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的記錄；標(biāo)配USB接口和RS232接口可與電腦相連接；電腦配套操作軟件可以方便直觀的直接對儀器進(jìn)行全功能操作、并記錄數(shù)據(jù),方便對材料進(jìn)行電氣分析。儀器測量精度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、操作簡單、測試結(jié)果顯示直觀，廣泛運(yùn)用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校等對各種半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料、導(dǎo)體材料及各種新材料的導(dǎo)電性能的測試。

CXT2668系列四探針測試儀CXT2667適用范圍：
適用于片狀或塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層、太陽能等材料的測試.配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層材料的電阻率/方阻.也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻.

產(chǎn)品描述:
電阻測試范圍:1uΩ-100MΩ;方阻測試范圍: 1uΩ/□-100MΩ/□; 電阻率測試范圍取決于電阻測試范圍及被測件尺寸.

CXT2668系列四探針測試儀CXT2667性能特點(diǎn)
?*高電阻精度：0.05 %；電阻*小分辨：1uΩ
?*高方阻精度：3 %；方阻*小分辨：1uΩ
?溫度補(bǔ)償功能（TC）；溫度基本精度: 0.1 ℃
?零底數(shù)設(shè)計(jì)，微弱電阻測試無需清零
?被測件厚度可預(yù)設(shè),電阻率測試無需查表
?雙電測模式,修正探針游移與樣品邊際效應(yīng)
?電阻/方阻、電阻率、電導(dǎo)率、溫濕度同步測試
?HANDLER/USB/RS232/RS485接口遠(yuǎn)程控制
?U盤記錄測試數(shù)據(jù)，并可遠(yuǎn)程升級儀器軟件
?符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
?適用于測量半導(dǎo)體、導(dǎo)電薄膜、金屬/納米涂層、太陽能材料、陶瓷、半絕緣材料及各種新材料等