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虹科高速數(shù)字化儀在高壓測試領(lǐng)域中的應(yīng)用

日期:2024-11-23 00:55
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摘要:虹科高速數(shù)字化儀在高壓測試領(lǐng)域中的應(yīng)用,虹科數(shù)字化儀非常適合用于高壓測試系統(tǒng),因為它具有廣泛的采樣速率、帶寬和分辨率。例如,高壓沖擊測試通常需要較大的動態(tài)范圍和*大的靈敏度。虹科提供高分辨率 14 位和 16 位數(shù)字化儀,可以捕獲和分析頻率內(nèi)容高達 250 MHz 的信號。這些高分辨率卡具有出色的信噪比(高達72 dB)和無雜散動態(tài)范圍(高達90 dB),因此可以檢測和分析*小的信號變化。
虹科高速數(shù)字化儀在高壓測試領(lǐng)域中的應(yīng)用
 
 高壓存在于各種地方,包括配電網(wǎng)絡(luò),檢測光或粒子的組件(例如光電倍增器和電子倍增器),發(fā)射光或顆粒的元件(例如鹵素球和陰極射線管),變壓器,高功率接收器和發(fā)射器,汽車點火系統(tǒng)以及各種自然發(fā)生的現(xiàn)象,如閃電和表現(xiàn)出靜電行為的物體。高壓的使用和研究非常重要,因為它對于了解電力的傳輸方式(配電中的關(guān)鍵參數(shù))以及組件在不同條件下的性能至關(guān)重要。
 
 虹科數(shù)字化儀非常適合用于高壓測試系統(tǒng),因為它具有廣泛的采樣速率、帶寬和分辨率。例如,高壓沖擊測試通常需要較大的動態(tài)范圍和*大的靈敏度。虹科提供高分辨率 14 位和 16 位數(shù)字化儀,可以捕獲和分析頻率內(nèi)容高達 250 MHz 的信號。這些高分辨率卡具有出色的信噪比(高達72 dB)和無雜散動態(tài)范圍(高達90 dB),因此可以檢測和分析*小的信號變化。此外,它們具有完全緩沖的前端電路和校準的增益范圍,可以輕松調(diào)整滿量程輸入范圍以匹配被測信號。對于更高的頻率,可提供8位數(shù)字化儀,提供高達5 GS/s的采樣率和1.5 GHz帶寬。
 
 這些數(shù)字化儀提供多種流行的標準,包括 PCI、 PCIe、 PXI 和 LXI。PCI和PCIe卡可以直接安裝在臺式PC上,而LXI儀器可以與筆記本電腦一起使用,也可以在任何可以連接到局域網(wǎng)(LAN)的地方使用。數(shù)字化儀具有大型板載存儲器(單卡多達 4 G samples)以及數(shù)據(jù)流和讀出模式,是捕獲長而復(fù)雜信號的理想選擇。將數(shù)據(jù)從數(shù)字化儀傳輸?shù)酱鎯ο到y(tǒng)還可以存檔數(shù)小時的信息。虹科的SBench 6軟件可以提供完整的儀器控制,以及查看、存儲和鑒定信號的簡便方法。FFT可用于頻域分析,參數(shù)計算可用于測量關(guān)鍵信號特性,如幅度、斜率、脈沖寬度等。